Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий : методы и применение: монография
 
 
ISBN: 978-5-00101-478-2
УДК: 621.3+681.54
ББК: 30.3+22.3
 
Number of pages: 601
Переводчик: Домкин К.И.
Additional information: 3-е изд. (эл.)
 

No view is available.

The book is accessible only through subscription.

Bibliographic description

Annotation

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.

Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.

Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Contents

MARC record